曾彥馨

博士生

元智大學工業工程與管理學系
機器視覺實驗室 (2428 Lab)
連絡電話：03-4638800-516-2428
E-mail：s939502@mail.yzu.edu.tw

　

學歷

2004-至今   元智大學              工業工程管理博士班

2001-2003   元智大學               工業工程管理研究所

1997-1999   雲林科技大學      工業管理技術系

1991-1996   明新工專               工業工程與管理科

經歷

2006-至今    台達電子 自動化工程部製程技術研發  資深工程師

2005-2006     由田新技            研發部軟體工程師(兼職)

2005-2007     龍華科技大學    企管系兼任講師

2004-2005     萬能科技大學   資管系兼任講師

2003-2005     友達光電            Cell整合測試課高級工程師/建廠專案高級工程師/  製造課長

2001-2006     國科會                研究助理

2001-2003     工業工程學會   工業工程學刊助理編輯

2000               達碁科技            製造工程師

研究興趣

·         機器視覺

·         LCD製程監控

 

個人榮譽

·         元智大學 學術一等獎章(2002)

·         元智大學 有庠獎學金(2001, 2002, 2004, 2005, 2006)

·         斐陶斐榮譽學會榮譽會員(2003)

 

期刊論文

1.            Yan-Hsin Tseng and Du-Ming Tsai, 2006,“Using independent component analysis based process monitoring,” Journal of the Chinese Institute of Industrial Engineers, Vol. 23, No. 3, pp. 262-267 (EI, INSPEC,TSSCI)

2.            Du-Ming Tsai, Su-Ta Chuang and Yan-Hsin Tseng,“One-dimensional Based Automatic Defect Inspection of Multiple Patterned TFT-LCD Panels using Fourier Image Reconstruction,” International Journal of Production Research. (Accepted) (SCI)

 

會議論文

1.            Du-Ming Tsai, Su-Ta Chuang, Yan-Hsin Tseng, 2006, “Automatic defect inspection of patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction,” The International Conference on Industrial Engineering Theory, Application and Practice(IJIE), Nagoya, Japan.

2.            Chi-Jie Lu, Du-Ming Tsai, Chih-Chou Chiu, Yan-Hsin Tseng, 2006, "Statistical process monitoring using independent component analysis based signal separation techniques," Chinese Institute of Industrial Engineers (CIIE2006), Tunghai university, Taichung, Taiwan.

3.            Du-Ming Tsai, Yan-Hsin Tseng, Shin-Min Chao and Chao-Hsuan Yen , 2006, “ Independent component analysis based filter design for defect detection in low-contrast textured images,” The 18th International Conference on Pattern Recognition (ICPR), Hong Kong, August.(IEEE收錄)

4.            Shin-Min Chao, Du-Ming Tsai, Yan-Hsin Tseng and Yuan-Ruei Jhang, 2006, “Defect detection in low-contrast glass substrates using anisotropic diffusion,” The 18th International Conference on Pattern Recognition (ICPR), Hong Kong, August. (IEEE收錄)

5.            Chi Jie Lu, Du-Ming Tsai, Chih Chou Chiu, Yan-Hsin Tseng “Independent component analysis based disturbance separation for statistical process control,” The 36th International Conference on Computers & Industrial Engineering, Taipei, Taiwan, June.(EI)

6.            Yan-Hsin Tseng and Du-Ming Tsai, 2005,“Using independent component analysis based process monitoring in TFT-LCD manufacturing,” 中國工業工程學會學術研討會，中華大學，新竹市。(學術論文佳作)

7.            Du-Ming Tsai, Chi-Jie Lu, Ping-Chieh Lin and Yan-Hsin Tseng, 2005, “Defect detection of backlight panel surfaces using independent component analysis filering scheme,” The 6th Asia Pacific Industrial Engineering and Management Science Conference, Manila, Philippines, December 4-7.

8.            Yan-Hsin Tseng, Du-Ming Tsai, 2005,“ Using Independent Component Analysis for Process Monitoring in TFT-LCD Manufacturing,” The 3rd ANQ Congress & The 19th Asia Quality Symposium, Taipei, Taiwan, September 20-23.

9.            蔡篤銘、林品杰、曾彥馨, 2005, “應用獨立成份分析濾波器於背光板與TFT-LCD面板之瑕疵檢測,” 第五屆全國AOI論壇與展覽，交通大學，新竹市。

10.         曾彥馨、蔡篤銘, 2004, “應用機器視覺於TFT面板之表面瑕疵檢測與分類,” 第四屆全國AOI論壇與展覽，交通大學，新竹市。

 

參與計畫

1.            保全機器人影像辨識模組技術開發，財團法人工業技術研究院 機械與系統所 (2006)

2.            應用分位數散佈圖之圖形比對技術於瑕疵檢測，國科會（2005）

3.            應用機器視覺於隨機性紋路之表面瑕疵檢測，國科會 (2003)

4.            應用小波轉換於圖形比對與物件偵測，國科會 (2002)

 

專書論文

    應用機器視覺於TFT面板之表面瑕疵檢測與分類，碩士論文，元智大學，2003年4月

 

專利

    以重建背景影像作為檢測顯示器波紋缺陷之方法，中華民國發明型專利（200709667）。